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磁粉探傷機(jī)在渦流鍍層厚度測(cè)量中的優(yōu)勢(shì)
作者:admin 發(fā)表時(shí)間:2020/1/27 1:21:47
根據(jù)測(cè)量原理,涂層厚度計(jì)有磁測(cè)厚儀、渦流測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、電解測(cè)厚儀、輻射測(cè)厚儀五種。目前,中國最常用的方法是1,2法。熔覆層的厚度可以通過熔覆層的厚度來測(cè)量,即熔覆層的厚度。所以只要包層與基材的磁導(dǎo)率差足夠大,就可以測(cè)量包層的厚度。
磁感應(yīng)原理磁感應(yīng)原理是利用探頭通過非鐵磁包層流入鐵磁基體的磁通來確定包層的厚度,包層越厚,磁通越小。由于它是一種電子儀器,易于校準(zhǔn),可以實(shí)現(xiàn)多種功能,擴(kuò)大范圍,提高精度。由于試驗(yàn)條件可以大大降低,因此比磁吸式應(yīng)用領(lǐng)域更廣泛。
采用渦流原理的測(cè)厚儀,原則上可以通過在所有導(dǎo)電體上涂不導(dǎo)電的涂料來測(cè)量,如航天飛機(jī)、車輛、家用電器、鋁門窗等鋁制品表面的涂料、塑料涂層和陽極氧化膜。一些特殊的應(yīng)用是金屬表面的金剛石鍍層和其他非導(dǎo)電鍍層。
涂層材料也可以導(dǎo)電,可以通過校準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量,但兩者之間的差異至少需要3-5倍(如銅鍍鉻)。校準(zhǔn)原則是不包層與基材應(yīng)校準(zhǔn)樣品分析物:成分是相同的,相同的厚度(主要是取決于厚度小于儀器的最小值約為0.5毫米以下),有相同的曲率半徑,如測(cè)量面積小于儀器的技術(shù)參數(shù)要求(直徑約20毫米以下),還應(yīng)當(dāng)有相同的區(qū)域進(jìn)行測(cè)試。如果包層含有導(dǎo)電元件,校準(zhǔn)樣品的包層應(yīng)具有與被測(cè)對(duì)象包層相同的導(dǎo)電性能。經(jīng)其它試驗(yàn)(包括有損試驗(yàn)法)或以校準(zhǔn)標(biāo)定芯片作為鍍層,標(biāo)定后的試樣厚度可按上述方法標(biāo)定。
磁感應(yīng)原理磁感應(yīng)原理是利用探頭通過非鐵磁包層流入鐵磁基體的磁通來確定包層的厚度,包層越厚,磁通越小。由于它是一種電子儀器,易于校準(zhǔn),可以實(shí)現(xiàn)多種功能,擴(kuò)大范圍,提高精度。由于試驗(yàn)條件可以大大降低,因此比磁吸式應(yīng)用領(lǐng)域更廣泛。
采用渦流原理的測(cè)厚儀,原則上可以通過在所有導(dǎo)電體上涂不導(dǎo)電的涂料來測(cè)量,如航天飛機(jī)、車輛、家用電器、鋁門窗等鋁制品表面的涂料、塑料涂層和陽極氧化膜。一些特殊的應(yīng)用是金屬表面的金剛石鍍層和其他非導(dǎo)電鍍層。
涂層材料也可以導(dǎo)電,可以通過校準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量,但兩者之間的差異至少需要3-5倍(如銅鍍鉻)。校準(zhǔn)原則是不包層與基材應(yīng)校準(zhǔn)樣品分析物:成分是相同的,相同的厚度(主要是取決于厚度小于儀器的最小值約為0.5毫米以下),有相同的曲率半徑,如測(cè)量面積小于儀器的技術(shù)參數(shù)要求(直徑約20毫米以下),還應(yīng)當(dāng)有相同的區(qū)域進(jìn)行測(cè)試。如果包層含有導(dǎo)電元件,校準(zhǔn)樣品的包層應(yīng)具有與被測(cè)對(duì)象包層相同的導(dǎo)電性能。經(jīng)其它試驗(yàn)(包括有損試驗(yàn)法)或以校準(zhǔn)標(biāo)定芯片作為鍍層,標(biāo)定后的試樣厚度可按上述方法標(biāo)定。